周期性的行业波动以及巨大的资本投入，使得过去的几年中，ATE（自动测试设备）供应商的集中度越来越高，这也印证了专家的分析——在ATE行业中，只有那些规模较大的企业才能抵御风险并立于不败之地。换言之，ATE是由少数几家实力雄厚的公司垄断的行业，随着爱德万测试（Advantest）对另一家ATE设备厂商惠瑞捷并购的完成，在ATE市场中，ADVANTEST已经处于绝对的领导地位，市场占有率达到49%（见图一）。
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图1 2011年ATE市场占有率，ADVANTEST占据半壁江山
ADVANTEST市场扩张增速
2011年7月4日，爱德万测试（ADVANTEST）以每股15美元的交易价取得了惠瑞捷的所有市场流通股，收购总额约为11亿美元。自此以后，惠瑞捷成为爱德万测试的全资子公司。此次收购使爱德万测试集团成为世界上最大的半导体测试设备供应商。依据2011年的统计数据，公司年销售总额约为17亿美元，市场占有率超过40%。爱德万测试（中国）管理有限公司战略业务策划室高级总监夏克金博士分析说说；“ATE产业震荡很大，技术门槛不断提高，IC的集成度也越来越高，市场上不再需要多种类型的ATE，只有市场份额较大的ATE公司才能生存下去。为了在行业中立足，并购在一定时期内将成为ATE行业的一个总体趋势。”
随着并购的全面完成，ADVANTEST凭借自身的实力，开始了新一轮的市场扩张行动——“ACT2014”。据夏克金博士介绍，公司希望借助“ACT2014”，将爱德万和惠瑞捷两家公司的优势资源进行有效的整合，达到“化学反应式”效果。按照预设的行动计划，到2014年，ADVANTEST的整体销售额将达到2500亿日元约合30亿美元，运营毛利润达到或高于20%，市场份额达到或超过50%。
对于具体的业务，ADVANTEST也制定了明确的市场目标
核心业务（Tester和Handler）增长1.5倍：Tester和Handler是爱德万目前的核心业务，随着惠瑞捷的加入，在存储器测试设备领域已经占优势地位的爱德万，有望进一步提高其在非存储器测试领域以及惠瑞捷的传统强项研发领域的市场份额。从地理角度来讲，爱德万在日本及亚洲的优势再结合惠瑞捷在北美和欧洲的基础，对扩大市场占有率极为有利。两家公司在产品、客户资源、研发、销售以及服务方面的优势互补，还会大大提升在全球市场的核心竞争力。
测试器外围设备（Tester Peripheral）业务增长2倍：对ATE而言，性能优异的测试外围设备可显著提高生产效率，惠瑞捷在测试设备的机电一体化和服务上有着较大优势。合并后，爱德万成为了市场上仅有的一家可提供一站式测试解决方案的公司，公司这部分业务有望实现2倍的增长。
云测试等新业务市场增长4倍：堆叠式封装技术（TSV，3D IC）被视为能以较小尺寸来制造高效能芯片的关键，现在已经逐步接近商用化。MEMS继电器、T赫兹技术以及云测试等新兴技术和应用的兴起，对ATE技术提出了严峻挑战，同时也为该领域带来了前所未有的发展机遇。作为爱德万未来业务主要增长点，该板块业务在“ACT2014”行动中被寄予厚望，期望实现4倍的业务增长。
本土化产品策略赢得亚洲市场
显然，为了实现以上的市场扩张，“给力”的产品是不可缺少的必要条件。为此ADVANTEST将针对亚洲市场继续发展其被称为“龙机（Dragon Tester）”的V93000 ATE测试系统，以满足亚洲市场的需求。
爱德万V93000测试系统原属惠瑞捷公司产品，按配置划分可分为A、C、S、L四个等级，所有结构板组互相兼容，软件也可兼容移植。历经12年的发展，V93000 Smart Scale测试系统已是第三代产品，作为市场上非常成功的高性能ATE产品，出货量已经超过2600台。其中A级和C级产品配置以极高的性价比，解决了低端应用中的成本控制问题，不仅设备的价格大幅降低，还可根据需要灵活配置，最多能支持2048通道，同时支持射频（RF）和模拟产品测试。与12年前的第一代V93000 single density相比，今天的V93000 Smart Scale产品具有更多的优势：密度增加了8倍，测试速度提高了15%，与此同时，功耗降低了80%，占地面积减少了75%，成本更低。
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图2 基于A级和C级的低成本V93000 Smart Scale“龙机”
V93000 Smart Scale测试系统以及数位信号测量模组包括28nm 技术节点及以下的3D 堆叠与IC设计。Pin Scale 1600数位测量模组在测试灵活性上开拓了一个崭新的领域，此模组的万用per-pin架构，让每个通道在测试下都能够发挥各种装置所需的功能，带来最大的灵活性。Per-pin功能包括独立时脉网域、高精准度的直流电与数位效能，都可以透过Pin Scale 1600 进行强化。Pin Scale 1600-ME则是专门针对存储器的演进而设计。此外，Pin Scale 9G针脚测量模组是市场上唯一完全整合、高速、数位化且能够涵盖自直流到超过每秒8Gb，符合成本的高速测试制具。高度多样化的Pin Scale 9G 针脚测量模组可测试包括平行或序列式、单点或多点、单向或双向的介面。
此外，对于以前ADVANTEST公司原有的T2000测试系统，公司也推出了增强型的解决方案。T2000增强型性能解决方案（EPP）包括了应用、基带处理器方案、无线IC解决方案、电源管理IC解决方案、IGBT以及CMOS图像传感器解决方案。EPP包含了硬件和软件两方面的改善。硬件方面，1GDM模块比原有的800MDM通道密度提高了两倍，速度达到1.1Gbps；DPS90A模块适用于多功能电源，成本低、应用基础广泛；GPWGD模块适用于多功能混合信号，同样具有成本低和多功能等优势，视频、音频均可覆盖。
软件方面包括了并发测试（concurrent testing），测试速度得以提升，同时加快了产品的面世速度，它可以满足四人同时进行开发测试，彼此之间平行工作，互不影响，加快了研发速度，进一步降低了成本。FTA是一种协议测试，它将设计理念经过模拟，产生一种协议模式，然后返还给测试人员，将设计者与测试工程师更紧密的联系起来，节约了研发的时间，降低了研发成本。
T2000平台可以进行板卡扩展，测试的应用范围得以扩大，覆盖了MPU/MCU/SOC测试、射频测试，以及消费类、汽车电子、无线通讯、CMOS图像传感器等测试。
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图三，T2000测试平台可为多样化的测试任务进行配置
