继电器的触点分析和继电器测试方法

发布时间:2018-12-6 阅读量:1430 来源: 我爱方案网 作者: sunny编辑

继电器是一种根据外界输入的电信号,来控制电路中电流的通与断的电器。可以说它就是一个“开关”,而控制电路中电流依靠的就是继电器触点的“开”和“闭”。继电器触点的工作过程有:断开过程、断开状态、闭合过程、闭合状态,对其工作的要求就是能可靠的合、断。而触点能否可靠工作,对其影响最大的是触点的接触电阻。再好的触点也不可能做到没有接触电阻,因此触点的接触电阻是客观存在的。


继电器的触点分析和继电器测试方法


继电器触点接触电阻的存在,当电流通过闭合的触点时,由于继电器触点接触电阻大就会消耗一定的功率(即I2Rj),这将使得触点的温度升高,如果电流较大,触点温度的升高,将会使触点材料发生软化、变形,导致接触电阻更大,严重时甚至会产生熔焊故障,使闭合的触点无法断开。

接触电阻的另一种表现形式是“膜电阻”,由于继电器的触点长期暴露在空气中,总有灰尘、水汽、化学气体产生的化合物,都会黏附在触点上形成一层很薄的薄膜,这就是所谓的“膜电阻”;这样触点的导电性就很差了,严重时甚至不导电。这就是有时在使用现场见到的,某对继电器触点表面看上去虽然已闭合接触了,但它所控制的电路就是不通,或者是忽通忽断、忽好忽坏,既影响了所控电路的正常工作,还使查找故障点极困难。

影响继电器触点接触电阻的因素有:触点压力的大小,触点材料的选择及使用,触点结构的形式,触点的制造工艺,触点使用环境及日常维护程度等。对继电器用户而言,除正确选型外,还要保证继电器的使用环境符合要求。使继电器尽量避开水汽、灰尘、有害气体的侵蚀,要采取措施来减少触点受污染,以保证接触电阻的稳定,从而提高触点的动作可靠性。

测试方法

测线圈电阻:可用万能表R×10Ω档测量继电器线圈的阻值,从而判断该线圈是否存在着开路现象。继电器线圈的阻值和它的工作电压及工作电流有非常密切的关系,通过线圈的阻值可以计算出它的使用电压及工作电流。

测触点电阻:用万能表的电阻档,测量常闭触点与动点电阻,其阻值应为0;而常开触点与动点的阻值就为无穷大。由此可以区别出那个是常闭触点,那个是常开触点。

测量吸合电压和吸合电流:找来可调稳压电源和电流表,给继电器输入一组电压,且在供电回路中串入电流表进行监测。慢慢调高电源电压,听到继电器吸合声时,记下该吸合电压和吸合电流。为求准确,可以试多几次而求平均值。测量释放电压和释放电流:也是像上述那样连接测试,当继电器发生吸合后,再逐渐降低供电电压,当听到继电器再次发生释放声音时,记下此时的电压和电流,亦可尝试多几次而取得平均的释放电压和释放电流。一般情况下,继电器的释放电压约在吸合电压的10~50%,如果释放电压太小(小于1/10的吸合电压)时则不能正常使用了,这样会对电路的稳定性造成威胁使工作不可靠。
220x90
相关资讯
晶振启动时间影响因素解析与优化方向

​晶振的启动时间,通常是指其通电后进入稳定振荡状态所需的时间。若启动时间过长,可从以下五个常见的影响因素方面进行优化。

解析RTC实时时钟芯片的工作原理

RTC(Real-Time Clock,实时时钟)芯片作为一种独立的专用计时器件,其核心功能包括提供稳定的日历时钟、在主电源断电后持续运行、支持定时中断以及输出高精度时间戳,为各类嵌入式系统提供可靠的时间基准。

无源晶振与有源晶振在MCU应用中的关联逻辑与选型指南

时钟系统是保障微控制器(MCU)稳定运行的核心,而晶振作为关键时钟源,主要分为无源晶振与有源晶振两种类型。下面将围绕工作原理、硬件接口、电气特性及其在MCU中的适配场景等维度,系统解析这两类晶振与MCU之间的关联逻辑。

VC-OCXO压控恒温晶振管脚功能定义解析

恒温晶振(Oven Controlled Crystal Oscillator,简称OCXO)是高精度频率源的核心组件,选用切型更优(如SC切、AT切高精度型)、封装应力极小的高Q值晶片,通过恒温槽的超精密控温,让晶振始终工作在零温度系数点,几乎消除温度引发的频率漂移。

晶振倍频干扰解决方案:从PCB布局优化到源头抑制与电路整改

晶振倍频干扰(即高次谐波辐射)是电磁兼容(EMC)设计中非常棘手的问题,通常表现为基频25MHz的5次、7次谐波(如125MHz、175MHz等)处辐射超标。该问题源于晶振输出方波信号包含丰富的高次谐波成分,若PCB布局不当,晶振及其走线极易构成高效辐射天线,导致电磁干扰增强。