【干货下载】电子元器件的可靠性

发布时间:2019-11-4 阅读量:1441 来源: 半导体资料分享 发布人: Jane

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 本期资料简介 



资料名 《电子元器件的可靠性》


简介:李能贵著,西安交通大学出版社出版。本书以电子元器件的失效分析为重点,比较全面、系统地介绍了电子元器件的可靠性基本理论、试验方法及数据处理方法,论述了典型元器件的失效机理和分析方法。此外,对可靠性管理进行了概要的介绍。


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