发布时间:2020-11-2 阅读量:893 来源: 我爱方案网 作者: 我爱方案网
测试需求功率计等测量仪器测试的电压、电流、功率等数据一般都是有效值或平均值,因为信号存在高频噪声,或是受负载影响存在波动,都会导致测试的数据存在波动,无法得到稳定数据。解决办法还是有不少的,比如延长测试时间,假设原来的测试时间是1s,那么可以把时间延长到5s甚至10s,时间延长了数据必然会更加稳定。

但是时间延长后带来的问题就是同样的时间内测得的数据点数变少,假如一份报告测试的数据点数一定的话,那么测试时间就会延长数倍以上,这在很多场合是无法接受的。那么除了延长时间之外,还有就是功率计里的平均功能。平均功能是对采样数据执行平均处理,能直接支持平均处理的测量功能有:U、I、P、S、Q等值。平均处理包括指数平均和移动平均两种处理方式,下面介绍两种方式的区别和应用。
指数平均选择指数平均法,用户可设定衰减常数对电压或电流有效值、有功功率的瞬时值(采样数据)进行指数平均,去除被测量的高频成分。其中衰减常数可以手动设置,衰减常数设置值越大测量值越稳定,对输入变化的响应速度也就越慢,也就是说测量延迟会相应变长。该平均法常用于信号中存在高频信号,通过设定衰减常数减小高频信号对数据的干扰,公式如下:Dn=Dn-1+(Mn—Dn-1)/K移动平均移动平均法,用户可设定移动个数对电压或电流有效值、有功功率的瞬时值(采样数据)进行移动平均,其原理是采集N个信号之后对这些数据求平均,其中移动个数N可以手动设置,移动个数设置值越大测量值越稳定,同样对输入变化的响应速度也就越慢,该平均方法多用于信号本身存在波动的情况,比如因负载波动导致信号本身波动,就建议用移动平均,移动平均公式如下:Dn=(Mn-(m-1)+Mn-(m-2)+…Mn-2+Mn-1+Mn)/m。
数据采集系统的核心是中心控制逻辑单元,它对整个系统进行控制和数据处理。数据采集需要经过两个必要的过程:采样和量化。采样过程是将被测的连续信号离散化,从连续信号中抽取采样信号的时刻值。采样过程由采样/保持器(S/H)完成。S/H可以取出输入信号某一瞬间的值并在一定时间内保持不变;在采样方式下,S/H的输出必须跟踪模拟输入电压;在保持方式下,S/H的输出将保持采样命令发出时刻的电压输入值,直到保持命令撤消为止。

采样保持器输入的是连续信号,输出的是离散信号,即采样信号。在采样过程中,采样波形是具有一定幅度的脉冲,采样保持器输出的是对输入连续信号调制后的脉冲信号,输出信号可以看成是连续信号与脉冲信号序列的乘积。采样获得的信号仅仅是连续信号在采样时刻的值,“为了使采样信号能完全恢复连续信号的频率f(t),采样频率必须不小于信号最高有效频率的2倍”,此定理称为采样定理。模拟信号经过采样保持后就送入模数转换器进行量化,然后将转换成的数字信号输入到中心控制逻辑单元,最后存入存储单元。
晶振的启动时间,通常是指其通电后进入稳定振荡状态所需的时间。若启动时间过长,可从以下五个常见的影响因素方面进行优化。
RTC(Real-Time Clock,实时时钟)芯片作为一种独立的专用计时器件,其核心功能包括提供稳定的日历时钟、在主电源断电后持续运行、支持定时中断以及输出高精度时间戳,为各类嵌入式系统提供可靠的时间基准。
时钟系统是保障微控制器(MCU)稳定运行的核心,而晶振作为关键时钟源,主要分为无源晶振与有源晶振两种类型。下面将围绕工作原理、硬件接口、电气特性及其在MCU中的适配场景等维度,系统解析这两类晶振与MCU之间的关联逻辑。
恒温晶振(Oven Controlled Crystal Oscillator,简称OCXO)是高精度频率源的核心组件,选用切型更优(如SC切、AT切高精度型)、封装应力极小的高Q值晶片,通过恒温槽的超精密控温,让晶振始终工作在零温度系数点,几乎消除温度引发的频率漂移。
晶振倍频干扰(即高次谐波辐射)是电磁兼容(EMC)设计中非常棘手的问题,通常表现为基频25MHz的5次、7次谐波(如125MHz、175MHz等)处辐射超标。该问题源于晶振输出方波信号包含丰富的高次谐波成分,若PCB布局不当,晶振及其走线极易构成高效辐射天线,导致电磁干扰增强。