电容测量仪电路

发布时间:2021-09-13 阅读量:899 来源: 我爱方案网 作者: 我爱方案网整理

78.png


这个测量仪能够测量几个pF到0.1uF的电容,量程分成25pF、100pF、1000pF、0.01uF和0.1uF5档。由于测量原理是线性的,可以直接用电流表刻度读数。


当VT4导通时,被测电容Cx和二极管VD放电,VT4开关一次,被测电容就充放电一次。被测电容大,每次充电时通过电流表的电量多;另外,VT4每秒钟开关的次数多,每秒钟通过电流表的电量也多。每秒钟通过电流表的电量,也就是通过电流表的电流。因此,通过电流表的电流和被测电容成正比,和VT4的开关频率成正比。如果要求通过电流表的电流一样大,那么测量小电容的时候,VT4的开关频率就要比较高。


220x90
相关资讯
晶振启动时间影响因素解析与优化方向

​晶振的启动时间,通常是指其通电后进入稳定振荡状态所需的时间。若启动时间过长,可从以下五个常见的影响因素方面进行优化。

解析RTC实时时钟芯片的工作原理

RTC(Real-Time Clock,实时时钟)芯片作为一种独立的专用计时器件,其核心功能包括提供稳定的日历时钟、在主电源断电后持续运行、支持定时中断以及输出高精度时间戳,为各类嵌入式系统提供可靠的时间基准。

无源晶振与有源晶振在MCU应用中的关联逻辑与选型指南

时钟系统是保障微控制器(MCU)稳定运行的核心,而晶振作为关键时钟源,主要分为无源晶振与有源晶振两种类型。下面将围绕工作原理、硬件接口、电气特性及其在MCU中的适配场景等维度,系统解析这两类晶振与MCU之间的关联逻辑。

VC-OCXO压控恒温晶振管脚功能定义解析

恒温晶振(Oven Controlled Crystal Oscillator,简称OCXO)是高精度频率源的核心组件,选用切型更优(如SC切、AT切高精度型)、封装应力极小的高Q值晶片,通过恒温槽的超精密控温,让晶振始终工作在零温度系数点,几乎消除温度引发的频率漂移。

晶振倍频干扰解决方案:从PCB布局优化到源头抑制与电路整改

晶振倍频干扰(即高次谐波辐射)是电磁兼容(EMC)设计中非常棘手的问题,通常表现为基频25MHz的5次、7次谐波(如125MHz、175MHz等)处辐射超标。该问题源于晶振输出方波信号包含丰富的高次谐波成分,若PCB布局不当,晶振及其走线极易构成高效辐射天线,导致电磁干扰增强。