发布时间:2022-04-12 阅读量:1910 来源: 我爱方案网整理 发布人: Aurora
一些新投入的变配电工程在一段短时期内(1~2 a)负荷较轻。变压器的损耗在中低压电网的线损中占的比例较大,尤其是轻负荷时占的比例更大。电网中存在一定数量轻载运行的变压器。变压器的负荷与损耗的关系。变压器的有功功率损耗是空载损耗和负载损耗之和。空载损耗是一个常数,它不随变压器的负荷变化而变化。

而负载损耗则是随着负荷电流的变化而变化,它与负荷电流的平方成正比。在一定负载电流下,变压器的有功功率损耗可用下式表示:P=P0+PL,式中 P——变压器的总损耗功率;P0——变压器的空载损耗功率;PL——变压器在一定负载电流下的负载损耗功率。负载损耗又与负荷电流I的平方成正比,即PL=I2R,式中 R——变压器绕组的等值电阻。变压器铭牌中给出了空载损耗P0和额定负载损耗PK,PK可表示为:PK=In2R,式中 In——变压器额定负荷电流。至此,可得出变压器在负荷电流为I时的总损耗值如下式:P=P0+(I2/I2n)PK。
正常运行的变压器出现绝缘事故有两种方式,一种叫突发式事故。这种事故的特点是:按现行的预防性规程进行的预防性试验合格,其他在线的监测也未发现事故的预兆。但在正常运行条件下,变压器内部突发绝缘击穿事故,继电保护动作跳闸。由于故障能量有大有小,或继电保护动作的时间有快有慢,变压器损坏的严重程度大不相同。
另一种叫垂危式故障。这种事故的特点是:预防性试验的绝缘性能试验合格,但从油中溶解气体的色谱分析发现乙炔(C2H2)。经分析确认与在绝缘部分存在放电有关。于是停电进行测量局部放电量的试验。试验结果表明放电状况异常,甚至在试验中就发生贯穿性击穿。实践表明将局放试验和其他试验结果进行综合分析,可以作出正确诊断,解体后可以找到绝缘发生不可逆损坏的故障点。
变压器内水分的动态特性。变压器内部的水分有两种存在状态,一种是受束缚的,一种是自由的。溶解于油中的水分可以随油流动而运动,称之为自由水。物理性吸附于固体绝缘和金属表面的水分,可以承随溶解到油中成为自由水,称之为准自由水。纸绝缘中准自由水含量以%计,而油中自由水以PPM计。准自由水的含量比自由水要大。例如,设纸绝缘与油的比例为1比10,当纸绝缘中准自由水为0.5%,油中自由水为10mg/L,准自由水比自由水就要多50倍。

油中自由水的含量随温度的升高而增加,纸中准自由水的含量则随温度的升高而下降。变压器在运行中纸绝缘和油中的水分不停地在进行交换。变压器在运行中油在不停地循环,变压器内的电场和温度场是不均匀的。在高电场处和低温处容易集积水分。因此随着变压器运行时间的延伸,水分在绝缘上的分布越来越不均匀,以致形成水分的局部集积。
晶振的启动时间,通常是指其通电后进入稳定振荡状态所需的时间。若启动时间过长,可从以下五个常见的影响因素方面进行优化。
RTC(Real-Time Clock,实时时钟)芯片作为一种独立的专用计时器件,其核心功能包括提供稳定的日历时钟、在主电源断电后持续运行、支持定时中断以及输出高精度时间戳,为各类嵌入式系统提供可靠的时间基准。
时钟系统是保障微控制器(MCU)稳定运行的核心,而晶振作为关键时钟源,主要分为无源晶振与有源晶振两种类型。下面将围绕工作原理、硬件接口、电气特性及其在MCU中的适配场景等维度,系统解析这两类晶振与MCU之间的关联逻辑。
恒温晶振(Oven Controlled Crystal Oscillator,简称OCXO)是高精度频率源的核心组件,选用切型更优(如SC切、AT切高精度型)、封装应力极小的高Q值晶片,通过恒温槽的超精密控温,让晶振始终工作在零温度系数点,几乎消除温度引发的频率漂移。
晶振倍频干扰(即高次谐波辐射)是电磁兼容(EMC)设计中非常棘手的问题,通常表现为基频25MHz的5次、7次谐波(如125MHz、175MHz等)处辐射超标。该问题源于晶振输出方波信号包含丰富的高次谐波成分,若PCB布局不当,晶振及其走线极易构成高效辐射天线,导致电磁干扰增强。