发布时间:2022-04-29 阅读量:2011 来源: 我爱方案网整理 发布人: Aurora
电容器的漏泄是通过向电容施加一个固定电压,并测量产生的电流测得的。漏流将随时间呈指数衰减,因此在测量电流之前,施加电压必须达到一个已知的时间周期(保压时间)。出于统计目的,必须测试一定数量的电容器来生成有用的数据。为了进行测试,就需要一套自动切换系统。

在该测试系统中,一组开关被用来向每个电容器施加测试电压。在常闭位置,电容器的一端被连接到电路LO。当开关触动时,电容器被连接到电压源。开关通常是交错触动的(例如,间隔2秒),从而在测量漏泄之前,每个电容器均可被充电相同的时间周期。若最大测试电压为110 V或更低,则可使用开关卡;否则,则可使用开关卡测试高达500 V的电压。如果必须施加高于500 V的电压,则应该使用具有相应额定值的开关。
第二组开关在经过合适的平稳时间后将每个电容器连接到皮安计。请注意,在电容器被切换至皮安计之前,它是被连接到电路LO的。这样就使得漏流在其充电器件亦可连续流通。对于这种应用,单台仪器提供了电压源和小电流测量功能。在测试过电容器之后,电压源应该被设置为零。有时候在将电容从测试夹具上拆除之前,必须使其放电。注意,图 1中的电容(C)通过继电器的常闭触点形成了放电通路。
与电容器串联的电阻器(R)是测试系统中的一个重要元件。它限制每个电容器的充电电流,并在电容器发生短路时保护继电器。此外,该电阻器还限制回馈安培表的交流增益。一般而言,当源电容增大时,噪声增益也会增大。该电阻器将增益限制为有限值。合理的限值是使RC时间常数为0.5~2秒。与静电计(pA)的HI端子串联的正偏二极管也起到限制交流增益的作用。
固定电容器的检测。A 检测10pF以下的小电容。因10pF以下的固定电容器容量太小,用万用表进行测量,只能定性的检查其是否有漏电,内部短路或击穿现象。测量时,可选用万用表R×10k挡,用两表笔分别任意接电容的两个引脚,阻值应为无穷大。若测出阻值(指针向右摆动)为零,则说明电容漏电损坏或内部击穿。B 检测10PF~0 01μF固定电容器是否有充电现象,进而判断其好坏。万用表选用R×1k挡。两只三极管的β值均为100以上,且穿透电流要小。

万用表的红和黑表笔分别与复合管的发射极e和集电极c相接。由于复合三极管的放大作用,把被测电容的充放电过程予以放大,使万用表指针摆幅度加大,从而便于观察。应注意的是:在测试操作时,特别是在测较小容量的电容时,要反复调换被测电容引脚接触A、B两点,才能明显地看到万用表指针的摆动。C 对于0 01μF以上的固定电容,可用万用表的R×10k挡直接测试电容器有无充电过程以及有无内部短路或漏电,并可根据指针向右摆动的幅度大小估计出电容器的容量。
晶振的启动时间,通常是指其通电后进入稳定振荡状态所需的时间。若启动时间过长,可从以下五个常见的影响因素方面进行优化。
RTC(Real-Time Clock,实时时钟)芯片作为一种独立的专用计时器件,其核心功能包括提供稳定的日历时钟、在主电源断电后持续运行、支持定时中断以及输出高精度时间戳,为各类嵌入式系统提供可靠的时间基准。
时钟系统是保障微控制器(MCU)稳定运行的核心,而晶振作为关键时钟源,主要分为无源晶振与有源晶振两种类型。下面将围绕工作原理、硬件接口、电气特性及其在MCU中的适配场景等维度,系统解析这两类晶振与MCU之间的关联逻辑。
恒温晶振(Oven Controlled Crystal Oscillator,简称OCXO)是高精度频率源的核心组件,选用切型更优(如SC切、AT切高精度型)、封装应力极小的高Q值晶片,通过恒温槽的超精密控温,让晶振始终工作在零温度系数点,几乎消除温度引发的频率漂移。
晶振倍频干扰(即高次谐波辐射)是电磁兼容(EMC)设计中非常棘手的问题,通常表现为基频25MHz的5次、7次谐波(如125MHz、175MHz等)处辐射超标。该问题源于晶振输出方波信号包含丰富的高次谐波成分,若PCB布局不当,晶振及其走线极易构成高效辐射天线,导致电磁干扰增强。