发布时间:2024-12-18 阅读量:2514 来源: 亚德诺半导体 发布人: lina
【导读】传统上,同步采样逐次逼近寄存器(SAR) ADC被视为是对主要由能源客户提出的提供保护继电器应用的需求的响应。在输配电网络中,保护继电器监测电网,以尽快对任何故障情况(过压或过流)作出反应,避免造成严重损坏。
传统上,同步采样逐次逼近寄存器(SAR) ADC被视为是对主要由能源客户提出的提供保护继电器应用的需求的响应。在输配电网络中,保护继电器监测电网,以尽快对任何故障情况(过压或过流)作出反应,避免造成严重损坏。
为了监测传输的电源,需要同步测量电流和电压。电流是通过变压器(CT)来测量的,在通过变压器后,电流减小,提供隔离,并通过负载电阻转换为电压。电压是通过电阻网络来测量的,这是一个分压器,它将电压从kV范围降至V范围。ADI公司提供同步采样ADC来监测电压和电流,以简化双器件、四器件或八器件的功率计算。图1所示的信号链原理图通常用于测量单相,多相电力系统的功率需要使用通道数量更高的数据采集系统(DAS),即8个通道对应3个相位和1个中性相位。
图1. 电源监控应用中的典型信号链。为简洁起见,仅显示一个相位。
何时使用外部前端电阻
虽然电阻输入ADC被设计成直接与大多数传感器连接,但在某些情况下,可能需要在模拟输入前面增加外部电阻。例如,如果应用需要额外的抗混叠滤波,或需要保护输入不受过流故障影响,就可能出现上述这种情况。
尽管电阻输入ADC通常提供一个内部抗混叠滤波器,但许多应用可能以较低的采样频率运行,因此,需要较低的转折频率。一个常见的要求是:在每个工频周期采集256个样本,也就是说,对于50 Hz电网系统,采样频率(fS)为12.8 kSPS。
采样频率如此之低,所以需要在电阻ADC的输入前面增加一个外部低通滤波器(LPF),用于抑制高于6.4 kHz的频率,即奈奎斯特频率(fS/2)。这可以通过增加一个一阶RC滤波器来实现。
图2. AD7606输入箝位保护特性。
外部电阻导致的误差
使用第一种解决方案可以实现出色精度,但需要很长时间进行出厂测试,这会大大增加产品的成本。第二种解决方案虽然更便宜,但不那么精准,因为它是基于ADC的典型输入阻抗,且使用控制器资源,在有些情况下,会受到限制。有时候,为了避免这两种复杂情况,客户可能会选择使用一个很大的输入阻抗,在这种情况下,前端电阻导致的误差会降低,使得系统精度随之提高。通过使用这种方法,问题从系统问题转变为IC问题。但是,这可能不是最有效的方法,因为增加输入阻抗意味着必须开发新的解决方案,这需要时间,且会导致产生新的问题,例如会因这些更大的片内电阻导致更高的噪声。AD7606B 和 AD7606C 具有片内增益校准功能,可以消除外部电阻导致的系统增益误差,在不经校准的情况下实现出色精度,避免增加系统解决方案的成本。
增益误差
PGA的增益取决于反馈电阻(RFB),它可以编程设置模拟输入范围和输入阻抗(RIN),这个值是固定的,典型值为1 MΩ。这些电阻经过调整,可以正确设置PGA增益,将±10 V或±5 V的模拟输入信号(AIN+/-)缩放到ADC输入范围,即±4.4 V,如图3所示。
图3. AD7606内部PGA。仅以±10 V范围为例。
图4. AD7606的模拟输入(VX+和VX-)前面的串联电阻会改变系统增益。
例如,如果在AD7606前面使用一个30 kΩ电阻,那么10 V输入信号在到达ADC输出端时,将不再是10 V信号,因为AD7606的PGA输出也不再是4.4 V。PGA输出将为4.2718 V,如果我们绘图表示这个新理论系统增益转换函数,则可以看出,增益误差为约–3%,具体如图5所示。
图5. PGA输出的幅度随RFILTER的增大而减小。(a) 显示PGA输出(单位:V),(b) 显示PGA输出电压(FS的百分比)。
为了便于评估,我们可以通过图表来表示公式5,作为系统增益误差,显示与满量程(FS)之间的%和与RFILTER之间的关系,如图6所示。
图6. 系统增益误差(FS的%),与AD7606中的外部RFILTER电阻(1 MΩ输入阻抗)呈函数关系。
图7. 因为输入阻抗更高(5 MΩ),所以AD7606B的PGA输出幅度受外部RFILTER的影响更小。
AD7606B/AD7606C
在AD7606B项目开发期间,指定的三款产品的输入阻抗和分辨率如表1所示。
表1. AD7606B项目类型、典型的输入阻抗和分辨率
在任何一种情况下,无论RIN是5 MΩ或1.2 MΩ,串联电阻(RFILTER)越大,系统增益越低,也就是说,增益误差越大。但是,RIN越大,RFILTER造成的影响越小,如公式5所示。理论上,对于高达50 kΩ的电阻,系统增益误差从几乎5%降低到1%。图8中5 MΩ和1 MΩ输入阻抗器件的对比显示了电阻对系统增益误差的影响。
图8. 基于输入阻抗(RIN)的系统增益误差(FS的%)比较。
在某些应用中,这种增益误差是可以接受的。误差如此之低,便无需如以前一样执行系统校准,这是在设计PGA时采用更高的输入阻抗所要达成的目标。但是,在其他一些应用中,1%的系统增益误差仍然可能超过行业标准或客户要求,所以仍然需要进行校准。
后端校准与片内校准
传统校准一般发生在系统出厂测试期间。该流程旨在:
但是,在这种情况下,因为可以通过公式5清楚了解该系统增益误差,所以可以通过对数据实施后期处理,从控制器这一端轻松消除这种误差,也就是说,增加一个校准因子(K)来恢复公式4中引入的误差,使得得出的系统增益在经过校准之后,变得与公式3中定义的理想增益类似。
将RIN值从最小值增加到最大值,但保持校准因子(K)不变,从公式6和图10可以看出,校准精度如何随内部电阻公差变化,对于用户来说,这是无法预测的。
图9. 后端校准模块。假设RIN的典型值,且已知外部电阻值RFILTER,对主机控制器执行校准。
图10显示在经过后端校准后,理论增益误差与RFILTER呈函数关系,许多输入阻抗值都在AD7606的15%公差范围内。如果输入阻抗与数据手册中的典型规格(绿线)相同,表示后端校准完全消除了RFILTER导致的增益误差。但是,如果在最坏情况下,控制器假设RIN = 1.2 MΩ(AD7606C-16数据手册中给出的典型输入阻抗),但电阻实际上为1 MΩ(数据手册中给出的最小值),那么后端校准会不准确,在RFILTER = 30 kΩ这个给定值下,得出的增益误差会大于0.5%,无法满足行业标准的要求。
图10. 后端校准误差取决于实际RIN值。
图11. 片内校准模块。仅以一侧通道为例。
这个8位寄存器表示RFILTER整数变量,可以对高达64 kΩ的电阻实施补偿,分辨率为1024 Ω。因为这种离散分辨率,如果RFILTER不是1024的倍数,会产生舍入误差。图12中的图表显示后校准误差如何保持在±0.05%以下,不受RFILTER和RIN影响(在计算校准系数(K)时会使用这两个值),不假设RIN等于其典型值,而是使用内部实际测量得出的RIN值。如果与图10相比,以RFILTER = 30 kΩ为例,这意味着误差降低高达10倍。这个误差与RFILTER完全无关,RFILTER越大,误差降低的幅度越大。
图12. 片内校准模块,按照通道。
我们可以在启用片内校准功能的情况下执行类似研究,假设RFILTER在最糟糕的公差下,以比较不同的常用公差:5%、1%和0.1%。
图13. RFILTER分立式电阻公差对片内校准功能精度的影响(最糟糕情况下)。
试验台验证
图14. 在启用片内增益校准时,AD7606B的总误差。
图15. (a) AD7606C-16在启用和不启用片内增益校准时,系统增益误差与RFILTER呈函数关系,(b) 片内校准图上的特写。
表2. 在给定RFILTER下,不同泛型(校准和未校准状态下)的总误差(%)
AD7606C-16和AD7606C-18的输入阻抗与AD7606B和AD7606不同,为1.2 MΩ(典型值)。因为输入阻抗更低,所以该系列中的这些泛型可以实现更低的噪声和更高的SNR性能。另一方面,在模拟输入前面使用一个电阻时,它们的系统增益误差相似。通过启用片内增益校准,可以再次大幅降低误差,降低到0.03%以下。
可以将这个实际数据与AD7606B/AD7606C部分中获取的理论数据进行比较。作为示例,图16在同一个图中显示在启用片内校准时,从AD7606C-16上采集的与RFILTER呈函数关系的总误差,以及基于图13中的理论分析计算得出的最糟糕误差。尽管测试所得的误差数据实际上是总非调整误差(未去除失调或线性误差),它们仍然低于理论数值。这表明,首先,增益误差是器件总非调整误差的主要部分,其次,用在电阻输入ADC前面的真实电阻的公差在1%指定公差范围内。
图16. AD7606C-16的实际结果与理论分析结果之间的比较。
图17. 四个AD7606C-18单元之间的片上校准和后端校准比较。
在后端控制器中使用校准系数时,并不考虑PGA的实际输入阻抗,这意味着器件与器件之间的差异会导致后校准误差。但是,片内校准会从内部测量输入阻抗,所以校准结果更准确,且与置于前面的RFILTER和实际RIN阻抗无关。这种更低的后校准误差有助于我们实现更高效、易于使用且精准的系统设计,这是除开"无需对控制器的每个单独的ADC数据点执行后处理,避免消耗资源"这个优势以外的另一个优势。
结论
电阻输入同步采样ADC是一种完整的解决方案,所有信号链模块均在芯片上,提供出色的AC和DC性能,易于使用,可以直接与传感器连接。正如某些应用指明,需要在模拟输入前面增加外部电阻。这些外部电阻会增大系统的精度误差,导致上市时间延长,且会增加额外的校准成本。ADI公司推出AD7606B系列新型阻抗输入ADC,帮助解决这一问题。该解决方案包括更大的输入阻抗和片内校准功能,可以帮助降低外部电阻导致的误差。
本文转载自:亚德诺半导体
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