光学防抖成硬件商新发力点,四大问题待解决

发布时间:2016-10-26 阅读量:1252 来源: 我爱方案网 作者: candytang

OIS全称是Optical Image Stabilization,从字面理解就是稳定的光学图象。通过镜头的浮动透镜来纠正“光轴偏移”,其原理是通过镜头内的陀螺仪侦测到微小的移动,然后将信号传至微处理器,处理器立即计算需要补偿的位移量,然后通过补偿镜片组,根据镜头的抖动方向及位移量加以补偿;从而有效的克服因相机的振动产生的影像模糊。这种防抖技术对镜头设计制造要求比较高,而且成本也相对高一些。



iPhone7plus发布之前,国产手机最常使用的就是“彩色+黑白”和“成像+景深”两种双摄模式,而现在,“广角+长焦”的新模式得到了大家的关注,其中内置的光学稳像(OIS)马达似乎让硬件厂商看到发力点。


目前,对手机性能的提升,关注点似乎都集中在电池和摄像头两方面。

对于前者来说,材料学进展没法一蹴而就,而双摄像头和更高成像质量则成为业内争夺的焦点。

iPhone7plus发布之前,国产手机最常使用的就是“彩色+黑白”和“成像+景深”两种双摄模式,而现在,“广角+长焦”的新模式得到了大家的关注,其中内置的光学稳像(OIS)马达成为手机厂商差异化竞争的发力点。

上周手机报主办的一场OIS技术研讨会上,一些业内领先公司分享了该领域的发展障碍与进展。


障碍一:成本问题

PFCOIL等核心资源还是在日本、霍尔元件等资源缺少议价权、LDS工艺做成的制品价格昂贵——这些都是需要面临的事实。

OIS马达成本由于原材料、成本、人力,良率损耗等问题,一直很高。——如果能够让产品的规格和生产良率实现标准化,或许OIS成本问题能得到缓解。

另外,零部件可能存在有设计、没有资源的问题,所以价格无法达到量产的目标。“因为资源的问题眼下没有办法解决,所以我们目前能做的,就是跟模组厂定下一个标准规格,以及最终达到的期望效果。”比路电子认为,“如果设计初期可以充分考虑模组厂商的要求,设计时可以规避。”


障碍二:OIS检测问题


有多少模块厂商可以进行OIS IQC?若不可以进行检测,到时候有争议如何厘清?——这是摆在制造环节一个重要的难题,不进行检验如何确保行程/电流/倾斜角等在范围内?这些都会造成的影像调试未达到预期效果。

若是无法在第一时间厘清规格问题,OIS的市场是无法被广泛的放大,三美达认为。


障碍三:双VCM间的磁干扰问题


传统方式的摄头模组抗磁干扰能力非常弱,且两个摄头模组的堆叠必须保持一定距离,才能达到防磁效果。

针对双摄马达磁场干扰问题,比路电子认为永磁铁干扰问题比较突出,可以考虑磁石共用的问题。

回到设计上的要求,三美达指出,“在设计马达的过程中进行优化磁场的分析,去了解每一个磁场最大的运用,以及通用性如何。完成之后,再进行与客户之间的协商,达到双方都满意的效果。”

爱佩仪的光学防抖系统有个专利设计:磁性部件固定在外围,四个独立控制的音圈在中心,从而把其他磁力对中心移动部件的磁性干扰降到最低。通过实验验证,两个模组相互之间的磁力干扰影响非常小,可放置在0.05毫米的距离内。


障碍四:更精密的制造工艺

更精密的制造工艺这其中包括双摄像头位置稳定、芯片贴装精度更高、光轴平衡度高,移轴镜头。

两个传感器的光轴趋于平行,这对成品率来讲至关重要。两个镜头的轴向安装角度误差必须控制在0.3度以内,距离精度控制在0.05毫米以内,这个非常有难度,即使现在的最先进的AA制程也不能完全解决这个问题,爱佩仪表示。
相关资讯
新能源汽车的“核心系统”:深度解析大三电与小三电技术体系

本文将从技术原理、系统架构及工程实现角度,全解剖析新能源汽车的大三电和小三电系统

从汽车电子到多元工业应用:CAN总线技术解析与发展趋势

CAN总线技术通过单一总线替代复杂布线系统,极大提高了系统的可靠性与可维护性

窥见电池灵魂:BMS数据采集如何成为电动时代的神经末梢

数据采集的精度和可靠性,直接决定了整个BMS系统性能的天花板

强强联合!英伟达50亿入股英特尔

英伟达投资50亿入股英特尔股票

​温补晶振(TCXO)核心技术解析:8大关键参数决定系统时序精度​

在高速通信、精准导航与精密测量等尖端领域,电子系统的时序架构对时钟信号稳定性的要求已近乎苛刻——其精度如同机械钟表的游丝摆轮,微小偏差便可能引发整个系统的时序紊乱,导致数据传输错误、定位偏移或测量失准。环境温度的波动一直是普通晶振频率稳定性的最大挑战,而温补晶振(Temperature Compensated Crystal Oscillator,简称TCXO)作为高精度时钟基准的核心器件,正是为解决这一核心问题而生。它凭借内置的“感知-计算-补偿”机制,在宽温环境下实现对频率的精准锁定,将温度变化引发的漂移压制在极低水平,成为高端电子系统中不可或缺的“时序锚点”。要真正理解并选型这一精密器件,就必须深入剖析其决定性能优劣的几个重要参数。