泰克推出用于DSA8300采样示波器的新型光学模块

泰克科技公司日前为DSA8300采样示波器推出两款最新的光模块，提供了业内最高的灵敏度和最低的噪声，增强了制造商提高生产能力、改善400G设计投入生产的良率的信心。

泰克还宣布加强对最新400G PAM4 TDECQ测量的支持，推出4通道并行优化处理软件，实现高吞吐量制造测试。

在刚刚结束的OFC光网络和通信展览会上，泰克演示了最新模块和功能以及用于100G/400G光学表征和验证的全套解决方案。泰克还为DPO70000SX实时示波器推出新的56GBd单模光学探头。

“随着400G设计投入生产，我们的客户正在寻求改善制造良品率和测试成本的方法，这些方法都始于对测试结果的信心，以及快速准确地将好元件与坏元件分开的能力。”泰克科技公司高性能示波器总经理Sarah Boen说，“凭借业内最低的噪声和最高的灵敏度，我们的解决方案提供了深入的洞察力，改善了光器件和互连的良品率和吞吐量。”

当安装在DSA8300采样示波器中时，专为56 GBd PAM4和NRZ开发的80C20和80C21 光模块提供了9µW的光学噪声，这是业内最好的噪声性能。双通道80C21使光学制造测试工程师可以把吞吐量和容量提高一倍。如果器件未通过测试，泰克将提供一套完善的增强型PAM4分析工具，分解信号中的噪声和抖动成分，帮助工程师了解底层问题。

为了满足数据中心对更高带宽的需求，光通信行业正在迅速转向400G和PAM4。然而，由于信噪比较低，信号幅度降低以及测试次数增加10倍以上，制造工程师面临的挑战是保持每个器件低测试成本。泰克基于DSA8300的采样解决方案提供了业内最高的带宽、最高的灵敏度和更短的测试时间，帮助工程师降低测试成本。

供货情况

80C20和80C21 光模块和400G测试软件增强功能将于2018年4月开始供货。如需订货信息，敬请联系泰克本地代表。

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