发布时间：2018-05-7 阅读量：696 来源: 我爱方案网 作者: Miya编辑
消费电子产品的大爆发，5G、IoT等技术热点驱动着消费电子领域飞速前进。数量巨大的智能终端性能大幅提升的同时实现互联，如智能家居、传感器、移动终端、可穿戴设备等，而这些应用场景要求有更低功耗，更稳定连接、更高集成度等设计考量。如何让测试满足这些日新月异的技术要求，而同时进一步降低测试成本、加快上市时间，这样的挑战每天都在上演。
在此背景下，由NI主办，OFweek电子工程网承办的2018消费电子自动化测试研讨会·昆山站将于2018年5月17日举行。NI作为领导的测试测量仪器厂商，将助力消费电子厂商，为其提供高效灵活的测试解决方案面对消费电子产品中的难题。本次研讨会上，NI 资深工程师将基于灵活的硬件平台和可扩展的软件搭建测试系统，借助 NI 软件定义的测试方法，构建面向消费电子的高效自动化测试系统，深入探讨5G、IoT、WLAN、音视频、电源等测试技术。
参会将有机会获得蓝牙耳机、手机摄像头、万能插座等精美礼品。我们期待您的参与！名额有限，赶紧扫码报名参会吧。
会议亮点：
1、与NI资深工程师面对面交流探讨
日程：
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在高速通信、精准导航与精密测量等尖端领域，电子系统的时序架构对时钟信号稳定性的要求已近乎苛刻——其精度如同机械钟表的游丝摆轮，微小偏差便可能引发整个系统的时序紊乱，导致数据传输错误、定位偏移或测量失准。环境温度的波动一直是普通晶振频率稳定性的最大挑战，而温补晶振（Temperature Compensated Crystal Oscillator，简称TCXO）作为高精度时钟基准的核心器件，正是为解决这一核心问题而生。它凭借内置的“感知-计算-补偿”机制，在宽温环境下实现对频率的精准锁定，将温度变化引发的漂移压制在极低水平，成为高端电子系统中不可或缺的“时序锚点”。要真正理解并选型这一精密器件，就必须深入剖析其决定性能优劣的几个重要参数。
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