接触电阻影响因素与故障处理

发布时间:2020-11-9 阅读量:1871 来源: 我爱方案网 作者: 我爱方案网

接触电阻主要受接触件材料、正压力、表面状态、使用电压和电流等因素影响。接触件材料。电连接器技术条件对不同材质制作的同规格插配接触件,规定了不同的接触电阻考核指标。如小圆形快速分离耐环境电连接器规定,直径为1mm的插配接触件接触电阻,铜合金≤5mΩ,铁合金≤15mΩ。


图片7.png


接触件的正压力是指彼此接触的表面产生并垂直于接触表面的力。随正压力增加,接触微点数量及面积也逐渐增加,同时接触微点从弹性变形过渡到塑性变形。由于集中电阻逐渐减小,而使接触电阻降低。接触正压力主要取决于接触件的几何形状和材料性能。


接触件表面一是由于尘埃、松香、油污等在接点表面机械附着沉积形成的较松散的表膜,这层表膜由于带有微粒物质极易嵌藏在接触表面的微观凹坑处,使接触面积缩小,接触电阻增大,且极不稳定。二是由于物理吸附及化学吸附所形成的污染膜,对金属表面主要是化学吸附,它是在物理吸附后伴随电子迁移而产生的。故对一些高可靠性要求的产品,如航天用电连接器必须要有洁净的装配生产环境条件,完善的清洗工艺及必要的结构密封措施,使用单位必须要有良好的贮存和使用操作环境条件。


使用电压达到一定阈值,会使接触件膜层被击穿,而使接触电阻迅速下降。但由于热效应加速了膜层附近区域的化学反应,对膜层有一定的修复作用。于是阻值呈现非线性。在阈值电压附近,电压降的微小波动会引起电流可能二十倍或几十倍范围内变化。使接触电阻发生很大变化,不了解这种非线性变化,就会在测试和使用接触件时产生错误。当电流超过一定值时,接触件界面微小点处通电后产生的焦耳热作用而使金属软化或熔化,会对集中电阻产生影响,随之降低接触电阻。


触头接触电阻变大往往会在触头上造成很大的电压降,使负荷设备的输入功率降低。如果一两个触头接触电阻变大,还会使负荷设备三相电压不平衡,造成缺相运行;触头接触电阻过大,对电器本身也会造成过热,使其可靠性降低。造成触头接触电阻过大的原因很多,除上面介绍的原因外,还有以下几项:触头表面有灰尘、花毛、油脂及金属微粒。检修时将焊剂、松香等杂物残留在电器内,在高温下逸出的有机蒸汽污染了触头。触头表面生锈或被电弧烧蚀。环境潮湿,触头表面上的水气在低温时可能凝结成冰霜。周围介质中的腐蚀性气体和蒸汽对触头造成侵蚀,在触头表面被覆上有害的绝缘膜。触头电磨损和机械磨损。


图片8.png


检测和排除触头接触电阻故障,按以下方法处理:检查接触电阻大小,可用多用表的电压挡进行测量,即在通电的情况下将多用表的表笔接触触头的两侧,量程由大逐渐变小。如果测得电压降大,则表明接触电阻大;若电压降为零,则表明触头接触良好。另外,还可在断电的情况下用多用表的电阻挡直接测量触头的接触电阻的方法来判断,但必须注意,触头的接触电阻与外加给衔铁压力大小有关。因此,在断开触头两端的接线后,在线圈通人电源的情况下测量触头两侧的电阻。平时应定时拆下灭弧罩,对触头进行检查和清洁,以防事故于未然。另外,对于工作在恶劣环境(如有酸、碱、盐及热蒸汽)下的电器,宜选用密封型的、带隔离罩的,并采用适当的防护措施。


相关资讯
不同应用场景中的晶振分类知识合集1

按晶振的功能和实现技术的不同,分为温度补偿晶振(TCXO)、压控晶振(VCXO)、恒温晶振(OCXO)。

晶振分频原理:数字电路的周期性计数实现频率转换!

为了在性能与功耗之间取得最佳平衡,需要根据具体应用场景,对基准时钟进行相应的分频、倍频或转换处理,从而为各模块提供适宜的时钟信号。此时,分频技术就成为连接晶振基准频率与系统需求的关键,通过数字电路将晶振原始频率按固定比例降低,输出符合要求的低频时钟信号。

RTC时钟芯片的电路工作原理与解析

RTC芯片是一种专门用于精准计时、掉电续时的专用集成电路,其核心功能是提供精准、稳定的时间信息(包括秒、分、时、日、月、周、年),并能在主电源断电后依靠备用电池继续保持计时,从而确保时间持续不间断。

晶振启动时间影响因素解析与优化方向

​晶振的启动时间,通常是指其通电后进入稳定振荡状态所需的时间。若启动时间过长,可从以下五个常见的影响因素方面进行优化。

解析RTC实时时钟芯片的工作原理

RTC(Real-Time Clock,实时时钟)芯片作为一种独立的专用计时器件,其核心功能包括提供稳定的日历时钟、在主电源断电后持续运行、支持定时中断以及输出高精度时间戳,为各类嵌入式系统提供可靠的时间基准。