发布时间:2023-06-25 阅读量:15966 来源: 我爱方案网整理 发布人: Aurora
常见的PCB电路板故障主要还是集中在元器件上面,像电容、电阻、电感、二极管、三极管、场效应管等,集成芯片跟晶振的明显损坏,这些故障可以用眼睛直观发现,而有些故障则需要借用工具,今天小编跟大家讲解下如何用万用表排查电路板的故障:
直观可见的故障排查:
1、看元件的状态
拿到一块出故障的电路板,首先观察电路板有没有明显的元件损坏,如电解电容烧毁和鼓胀、电阻烧坏以及功率器件的烧损等。
2、看电路板的焊接
如印制电路板有没有变形翘曲;有没有焊点脱落、明显虚焊;电路板覆铜皮有没有翘起、烧糊变黑。
3、观察元件的插件
如集成电路、二极管、电路板电源变压器等方向有没插错。
万用表排查电路板故障:
一、普通二极管的检测
用MF47型万用表测量,将红、黑表笔分别接在二极管的两端,读取读数,再将表笔对调测量。根据两次测量结果判断,通常小功率锗二极管的正向电阻值为300-500Ω,硅二极管约为1kΩ或更大些。锗管反相电阻为几十千欧,硅管反向电阻在500kΩ以上(大功率二极管的数值要小的多)。好的二极管正向电阻较低,反向电阻较大,正反向电阻差值越大越好。如果测得正、反向电阻很小均接近于零,说明二极管内部已短路;若正、反向电阻很大或趋于无穷大,则说明管子内部已断路。在这两种情况下二极管就需报废。
在路测试:测试二极管PN结正反向电阻,比较容易判断出二极管是击穿短路还是断路。
二、三极管检测
将数字万用表拨到二极管档,用表笔测PN结,如果正向导通,则显示的数字即为PN结的正向压降。
先确定集电极和发射极;用表笔测出两个PN结的正向压降,压降大的是发射极e,压降小的是集电极c。在测试两个结时,红表笔接的是公共极,则被测三极管为NPN型,且红表笔所接为基极b;如果黑表笔接的是公共极,则被测三极管是PNP型,且此极为基极b。三极管损坏后PN结有击穿短路和开路两种情况。
在路测试:在路测试三极管,实际上是通过测试PN结的正、反向电阻,来达到判断三极管是否损坏。支路电阻大于PN结正向电阻,正常时所测得正、反向电阻应有明显区别,否则PN结损坏了。支路电阻小于PN结正向电阻时,应将支路断开,否则就无法判断三极管的好坏。
三、MOS管好坏的经验
1:用黑表笔接在D极上 ,红表笔接在S极上 , 一般有一个500-600的阻值
2:在黑表笔不动的前提下,用红表笔点一下G极,然后再用红笔测S极,就会出现导通
3:红表笔接D极,黑表笔点以下G极后再接S极 测得的阻值和1测的是一样的 说明MOS管工作正常
四、电解电容器的检测
用MF47型万用表测量时,应针对不同容量的电解电容器选用万用表合适的量程。根据经验,一般情况下,47μF以下的电解电容器可用R×1K档测量,大于47μF的电解电容器可用R×100档测量。
将万用表红表笔接电容器负极,黑表笔接正极,在刚接触的瞬间,万用表指针即向右偏转较大幅度,接着逐渐向左回转,直到停在某一位置(返回无穷大位置)。此时的阻值便是电解电容器的正向漏电阻。此值越大,说明漏电流越小,电容器性能越好。然后,将红、黑表笔对调,万用表指针将重复上述摆动现象。但此时所测阻值为电解电容器的反相漏电阻,此值略小于正向漏电阻。即反相漏电流比正向漏电流要大。实际使用经验表明,电解电容器的漏电阻一般应在几百千欧以上,否则将不能正常工作。
在测试中,若正向、反相均无充电现象,即表针不动,则说明电容器容量消失或内部短路;如果所测阻值很小或为零,说明电容器漏电大或已击穿损坏,不能再使用。
在路测试:在路测试电解电容器只宜检查严重漏电或击穿的故障,轻微漏电或小容量电解电容器测试的准确性很差。在路测试还应考虑其它元器件对测试的影响,否则读出的数值就不准确,会影响正常判断。电解电容器还可以用电容表来检测两端之间的电容值,以判断电解电容器的好坏。
方案介绍
基于新唐ML51开发的电池管理系统(BMS)—超低功耗MCU+AFE方案
方案简介
1:基于ML51开发的电池管理系统(BMS)方案,是电池与用户之间的纽带,主要就是为了提高电池的利用率,防止电池出现过度充电和过度放电。
2:系统特性
•ML51是性能增强型 1T 8051微控制器,内嵌Flash,运行速度可达24 MHz
•5至14节高精度电池电压测量功能
•充放电电流测量功能
•短路保护功能
•内置电池平衡开关
•外部充放电FET控制
•双通道温度检测
•过压保护功能
性能参数
行业分类 : 电源电池
开发平台 : Nuvoton 新唐
交付形式 : PCBA
性能参数 : 运行速度 : 24 MHz
应用场景 : BMS 电池保护板
基于MCU差分升级FOTA方案
运行在各种设备的程序,由于功能的迭代或自身bug的修复,难免需要升级功能,通常升级的程序都是以完整升级包(new app)的方式进行,存在包体积大、耗时长的缺点;
包文件分析显示一般程序在版本迭代时A、B版本之间的差异部分在10%以内; 顾名思义,差分升级就是提取A、B版本之间的差异,减小包体积、降低升级时间;
该差分算法库与平台无关,可移植到各大常用芯片平台,移植非常简单,并有文档介绍操作。
算法为自研算法,目前已有产品在市面上运行。
性能参数
行业分类 : 智能家居
开发平台 : Atmel 爱特梅尔
交付形式 : 软件
性能参数 : ,RAM : 1k,flash : 5k
应用场景 : 低速无线,OTA,差分升级,低功耗无线升级
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