发布时间:2026-07-23 阅读量:140 来源: 发布人: Liv
横河测试测量宣布,将于2026年8月19日正式发售WT系列全新成员WT1500高精度功率分析仪。作为WT系列中首款支持2000V DC直接输入的仪器,WT1500无需依赖传统高压分压器即可实现高压工况下的高精度测量,同时支持旋变信号输入与多台设备同步功能,专为电动汽车(xEV)动力总成及可再生能源(PCS/ESS)等复杂系统的性能评估与测试而生。

随着xEV技术与可再生能源市场的持续扩张,高压设备的评估、测试与生产能力需求正加速提升。然而,当测量电压超过1500V时,传统功率分析仪必须搭配专用高压分压器使用,这不仅可能引入额外测量误差,还使布线与设备安装变得异常复杂。在xEV电机效率测试中,传统方案需分别采集功率信号与旋变信号,再通过PC进行后期同步,流程繁琐且耗时。此外,将测试仪器集成到标准机架或空间受限的桌面测试环境中,也一直是行业痛点。
为应对上述挑战,横河测试测量开发了WT1500高精度功率分析仪。该设备可在最高2000V的系统中实现无分压器直接测量,同时通过集成化设计显著提升易用性,帮助工程师构建更高效、更简化的测试与评估工作流。
WT1500在测量性能、系统集成与扩展能力三个维度实现了全面突破,精准匹配高压、高频、多通道的复杂测试需求。
适配高压与高频的高精度测量性能
WT1500提供WT系列中较高水平的测量性能,可在广泛工况下保持出色精度。其总功率精度达±0.038%(DC、50/60Hz),50/60Hz低功率因数精度为视在功率的±0.07%。设备提供两种输入单元,支持单台仪器混合使用:高压输入单元支持最高2000V DC、300kHz直接测量,专为PCS和ESS等高压系统设计;高带宽输入单元支持最高1000V、2MHz带宽,可精准捕捉现代xEV电机产生的复杂高频波形。
2U紧凑设计与丰富通信接口
WT1500采用节省空间的2U设计(19英寸机架宽度,约88mm高),便于集成到评估系统机架或桌面测试环境中。尽管外形紧凑,设备仍提供丰富的通信接口与远程控制功能:支持最多四路功率测量和四组电机评估;支持编码器与旋变信号输入、IEEE 1588时间同步、CAN/CAN FD总线数据输出及UDP低延迟数据传输;可通过PC、外接显示器或平板电脑远程操作,也可通过紧凑的前面板独立完成配置与测量。
面向多通道测量的灵活扩展能力
对于超过四个通道的测量需求,最多可同步五台WT1500,实现20通道功率测量。整套系统由一台主控主机下发从机参数配置指令,并汇总采集所有测量数据。WT1500在电压端子旁配备了独特的电流输入端子,可为电流传感器供电,结合新型适配器可兼容多种传感器:CT系列穿芯式(D-sub端子,60A—2000A,AC/DC)、CT1000S开合式(BNC,1000A,AC/DC)以及交流钳形电流探头(BNC,50A和200A级)。
WT1500主要面向EV/xEV、汽车、电力及可再生能源(PCS/ESS)等核心市场,典型应用场景包括:
四通道功率测量,可同时处理单相和三相输入,并通过PC管理系统完成配置与数据采集;
使用双WT1500或单台设备配置,对双系统逆变器电机和e-Axle系统进行测量;
ESS和PCS的多台同步测量及高压测量。
随着工业4.0、人工智能、数据中心及5G通信等产业的深度迭代,现代电子设备的功能集成度持续飙升,电源系统早已告别单一电压、单一功率的基础供电模式。复杂电子系统对多档位、高精度、高稳定性的多路供电支撑需求激增,传统模拟电源因调试繁琐、适配性差、智能化不足等短板,已难以适配高端场景的供电刚需。在此背景下,数字化多路电源模块凭借智能化控制、多路精准输出、高集成高效率及可远程管控等核心优势,突破传统技术瓶颈,正成为复杂电源系统的核心新星,迎来规模化普及的爆发期。
传东山精密子公司索尔思光电位于美国的仓储物流环节发生失窃,一批 DML 光芯片和半成品 800G 光模块被盗,损失高达数千万美元。
英特尔与AMD正与中国客户商讨超过一年期的CPU供应协议
上海治精微电子有限公司(以下简称“治精微”)近日宣布推出全新36 V高精度低噪声轨到轨输入输出运算放大器ZJA3192。作为继5 V轨到轨精密放大器ZJA3216系列后的又一力作,ZJA3192成功将治精微的精密技术拓展至高压领域,旨在为工业控制、自动测试设备及仪器仪表等高端应用提供更具竞争力的信号链解决方案。
Littelfuse公司正式推出FlatSuppressX TP5.0SMD-FL(5 kW)及TP1KSMB-FL(1 kW)系列TVS二极管,专为符合ISO 21780标准的新一代48V汽车系统设计。该系列产品依托专有的FlatSuppressX技术,在快速瞬变及高能浪涌事件期间可维持近乎恒定且极低的钳位电压,有效保护DC/DC转换器、栅极驱动器及电源IC等敏感器件免受瞬态过电压冲击,同时避免传统TVS器件常见的闩锁风险。