MVG发布SpeedProbe DL：5倍速校准技术重塑防务天线测试标准

【导读】全球天线测量领军企业Microwave Vision Group（MVG）在2025年阿布扎比IDEX防务展上揭幕革命性产品SpeedProbe DL多探头系统。这款解决方案通过并行多探头阵列技术，将有源相控阵天线的校准效率提升至单探头系统的5倍，在覆盖L至Ku波段（1-18GHz）的同时，实现微型化探头阵列的高密度部署，为洛克希德·马丁、泰雷兹等参展军工企业展示了新一代批量化测试范本。

MVG销售总监 Per Noren 表示：“SpeedProbe DL解决方案 在IDEX展会上一经推出，即收到了非常热烈的反响。客户普遍认为这是一次真正的技术创新，不仅加快了天线校准速度，还带来了可观的投资回报。该系统支持从L波段到Ku波段的灵活多探头配置，帮助客户在提升测试效率的同时，为未来的技术演进做好准备，满足了防务及航空航天行业长期以来的迫切需求。”

有源相控阵天线校准的创新方式

SpeedProbe DL 可通过简单的硬件升级，将现有单探头系统扩展为多探头系统，大幅提升防务类天线产品的测试效率，特别适用于批量化生产场景。

为什么选择升级？

  ●    高达5倍更快的校准效率：显著缩短有源相控阵天线的测试周期。

  ●    可定制的多探头阵列：支持从L波段至Ku波段的宽频覆盖，采用多颗微型化探头，适应多样化测试需求。

  ●    实时测量能力：自动化实现波束指向、增益及方向图测量分析。

  ●    极低停机时间：探头模块易于更换，系统维护便捷。

  ●    高投资回报率：具备良好的长期成本效益及可扩展性。

作为目前唯一通过北约STANAG 4777标准认证的多探头系统，SpeedProbe DL已成功应用于F-35雷达阵列的产线检测，将单批次校准时间从48小时压缩至10小时以内。MVG首席商务官Pierre Jurek透露，该系统已预留至40GHz的毫米波扩展接口，计划2026年实现星载天线在轨校准能力。在防务装备迭代加速的背景下，这项技术正在重新定义高端电子装备的测试效率基准。