三星突破10nm以下DRAM内存技术瓶颈

发布时间:2025-12-18 阅读量:990 来源: 发布人: suii

三星及其先进技术研究院于12月16日周二在IEEE会议上发布了一项突破性技术,宣布成功制造出尺寸小于10纳米的DRAM芯片。该技术采用"单元-外围电路"(Cell-on-Peri,简称CoP)的创新架构,将存储单元直接集成在外围电路之上,这一设计显著提升了芯片的集成度和性能表现。

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这与目前将周界晶体管放置在存储单元下方的方式不同,周界晶体管在高温过程中很容易受到损坏,导致性能下降。三星将其技术命名为“用于10nm以下CoP垂直通道DRAM晶体管的高晶体管非晶晶体管晶体管”。


这家韩国科技联盟决定,他们采用了一款基于非晶晶体管氧化物(InGaO)的晶体管,该晶体管可以承受高达550℃的高温,从而防止性能下降。三星补充说,该垂直沟道晶体管的沟道长度为100nm,可以与单片CoP DRAM架构集成。


该公司指出,在测试过程中,漏极电流的劣化程度极小,晶体管在老化测试中也表现良好。


消息人士称,该技术目前仍处于研究阶段,未来将评估10nm以下的0a和0b类DRAM产品中。


结语

三星此次发布的CoP架构DRAM技术标志着存储器制造工艺的重大突破。通过采用耐高温的非晶晶体管氧化物材料,三星成功解决了传统周界晶体管在高温工艺中易受损的技术难题,为10纳米以下DRAM的量产铺平了道路。

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